産総研や九大など、貴金属の単原子元素分析に光明産業技術総合研究所(産総研)は7月9日、九州大学(九大)と日本電子との共同研究により、最新鋭の「収差補正型透過電子顕微鏡」を用いて単原子からの「特性X線」を検出することに成功したと発表した。 成果は、産総研 ナノチューブ応用研究センターの末永和知上席研究員、同センター 高度化ナノチューブチームの岡崎俊也研究チーム長、九大 超高圧電子顕微鏡室室長の松村晶教授、日本電子の奥西栄治リーダーらの研究グループによるもの。研究の詳細な内容は、日本時間7月9日付けで英科学誌「Nature Photonics」オンライン版に掲載された。 生体や物質に含まれる元素を、原子1つ1つの精度ですべて分析する技術は、広い範囲の研究分野で望まれている。これまでにも「電子線エネルギー損失分光(EELS)」など、単原子の元素分析を行なえる技術はあったが、対象となる元素の種類が限られ、特に触媒や抗がん剤などに使用される白金
